25. Suntola T., Antson J. U. S. Pat. 4, 058, 430, 1977.

26. Malygin A., Malkov A., Dubrovenskii S., Adsorption on New and Modified Inorganic Sorbents. V. 99 / Eds. A. Dabrowski, V. A. Tertykh. Amsterdam: Elsevier, 1996. P.213.

27. Еріх В. М., Расщек М. Г., Рудин М. Г. Хімія і технологія нафти і газу. – Л.: Хімія, 1977.

28. Пат. 2254163 (РФ), Сорбционный материал с бактерицидными свойствами на основе оксида алюминия. Иванов А. П., 20. 06. 2005.

29. Лисичкин Г. В. Химия привитых поверхностных соединений. – М.: Физматлит. 2003. – 592 с.

30. Мингалев П. Г., Ржевский Д. В., Перфильев и др. // Вестн. Моск. ун – та. Сер. 2. Химия. 2000. 41. – С. 53.

31. Тьортих В. А., Белякова Л. А. Хімічні реакції з участю поверхні. – К.: Наукова думка. 1991.

32. Ohata K., Marikawa H., Tanaka K. // J. Chromatogr. A. 2000. 884. P.123.

33. Behavioral effects of novel enterosorbent noolit on mice with mixed depression / Yu. I. Borodin, N. N. Kudryavtzeva, M. V. Tenditnik // J. Pharmacology, Biochemistry, Behavior. – London, 2002. – Vol. 72. – P. 131 – 141.

34. Препарат Биосорб – Бифидиум для нормализации экологии внутренней среды организма / Ю. И. Бородин, Г. С. Солдатова и др. // Проблеми лимфологии и эндоэкологии: Тез. межд. симпоз. – Новосибирск, 1998. – С. 58 – 59.

35. Пат. 3379499 (США), Кл. 23 - 143. Опубл. 1978.

36. А. С. 3263152 (СРСР), Кл. С 01F 7/02. Опубл. 1981.

37. Технологічний регламент дослідно – експериментального заводу ІХП НАН № 149. 1992.

38. Чуйко О. О. Хімія поверхні кремнезему в 2-х ч. – К.: Наукова думка, 2001.

39. Пелехан Н. Я., Хома М. І., Яковина Я. Я. Дослідження можливості зміни імпортного каталізатора процесу окислювального хлорування у виробництві вінілхлориду // Вісник Прик. ун - ту. Вип. IV, 2004. – С. 82.

40. Чуйко О. О., Круглицький М. М., Шиманський А. П. Дослідження хімії поверхні дисперсного оксиду алюмінію // Зб. Адсорбція і адсорбенти № 3. – К.: Наукова думка, 1975. – С. 86 – 90.

41. Захаров Л. Н. Техника безопасности в химических лабораторіях: Справочн. изд. – 2-е изд. перераб. и доп. – Л.: Химия, 1991. – 366с.

ДОДАТКИ

1. Методика кількісного спектрального методу визначення концентрації структурних гідроксильних груп на поверхні оксидів.

Початкову концентрацію структурних ОН-груп на поверхні (?SiOH) чи інших оксидів визначають по інтенсивності їх смуги поглинання в ІЧ - спектрах. Використовуючи залежність оптичної густини смуги поглинання з максимумом біля 3750 см-1, що відповідає валентним коливанням ізольованих груп – ОН, від їх концентрації, яка підпорядкована закону Ламберта – Бугера – Беера.

Нахил цієї залежності визначається товщиною пластинок сформованої з оксиду. Коефіцієнт поглинання (Е) не залежить від питомої поверхні (Sпит., м2/г) дисперсного оксиду. В той же час залежність коефіцієнта екстінції від товщини поглинаючого шару (Рпит.) задовільно описується рівнянням рівноосної гіперболи.

Взаємодія інфрачервоного випромінювання з частинками дисперсного оксиду описується рівнянням для інтегрального коефіцієнта поглинання (Ан):

Ан = 1,1665 · n · (553 - Sпит.), см · Моль-1 (8)

де n – емпіричний коефіцієнт, що є функцією товщини зразків.

Використовуючи закон Ламберта – Бугера – Беера і визначену площу під контуром смуги поглинання 3750 см-1, що описується функцією Лоренца, а також геометричні параметри поглинаючого зразка, концентрацію груп – ОН визначають по формулі:

; (9)

де Dн – оптична густина в максимумі смуги поглинання біля 3750 см-1;

ДнЅ – півширина цієї смуги поглинання, см-1;

Ан – інтегральний коефіцієнт поглинання, розрахований по формулі (1);

Sо – площа поверхні зразка оксиду, що потрапляє в канал спектрометра, см2;

Рпит. – товщина зразка оксиду, г/см2.

Самопідтримуючі таблетки оксиду формуються в прямокутній пресформі, тиском 5 кг/см2 з наважки діоксиду силіцію – 0,3 г.

Концентрація – O – C2H5, – Si(CH3)2 та інших привитих груп визначається подібним чином, використовуючи в кожному випадку свій коефіцієнт n, що є функцією товщини пластинки SiO2: n = f (д).

2. Методика визначення концентрації силанольних груп на поверхні оксиду гравіметричним методом.

Наважку дисперсного SiO2, взяту з точністю до четвертого знака за комою, витримують 3 год. в сушильній печі при температурі 105?С. Переносять в ексикатор, доводять до постійної ваги і зважують з такою самою точністю.

Зразок переносять в муфельну піч і при температурі 800?С прожарюють на протязі 4 год. охолоджений в інертній атмосфері зразок зважують і по втраті ваги при прожарюванні, віднесеній до одиниці маси взятої наважки кремнезему розраховують кількість структурних гідроксилів, яку ділять на величину питомої поверхні оксиду. Таким чином, одержують СОН в мМоль/м2, або віднесеній до 1 г оксиду.

3. Методика визначення водневого показника.

З метою оцінки кислотності поверхні оксиду, готують 4%-ну суспензію в дистильованій воді. Для продукту з гідрофобною поверхнею, зразок спочатку змочують 1 мл етилового спирту.

Після одержання однорідної суспензії на магнітній мішалці ведуть вимірювання рН – метром і скляним індикаторним електродом. Перед вимірюванням, прилад перевіряють на “0” або по буферній суміші з відомим значенням рН.

4. Методика визначення питомої поверхні по методу БЕТ.

Для визначення питомої поверхні дисперсного оксиду по низькотемпературній адсорбції азоту частинки оксиду повинні покриватися моношаром з молекул азоту при різних тисках. Так одержують ізотерму адсорбції азоту на поверхні SiO2. Знаючи, що молекула азоту займає площу 16,2 А?2, то з допомогою числа Лошмітта